Physical Property Measurement of Liguid Metal*

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

Property-Based Software Engineering Measurement

Little theory exists in the field of software system measurement. Concepts such as complexity, coupling, cohesion or even size are very often subject to interpretation and appear to have inconsistent definitions in the literature. As a consequence, there is little guidance provided to the analyst attempting to define proper measures for specific problems. Many controversies in the literature ar...

متن کامل

asymptotic property of order statistics and sample quntile

چکیده: فرض کنید که تابعی از اپسیلون یک مجموع نامتناهی از احتمالات موزون مربوط به مجموع های جزئی براساس یک دنباله از متغیرهای تصادفی مستقل و همتوزیع باشد، و همچنین فرض کنید توابعی مانند g و h وجود دارند که هرگاه امید ریاضی توان دوم x متناهی و امیدریاضی x صفر باشد، در این صورت می توان حد حاصلضرب این توابع را بصورت تابعی از امید ریاضی توان دوم x نوشت. حالت عکس نیز برقرار است. همچنین ما با استفاده...

15 صفحه اول

determination of some physical and mechanical properties red bean

چکیده: در این تحقیق، برخی خواص فیزیکی و مکانیکی لوبیا قرمز به-صورت تابعی از محتوی رطوبت بررسی شد. نتایج نشان داد که رطوبت بر خواص فیزیکی لوبیا قرمز شامل طول، عرض، ضخامت، قطر متوسط هندسی، قطر متوسط حسابی، سطح تصویر شده، حجم، چگالی توده، تخلخل، وزن هزار دانه و زاویه ی استقرار استاتیکی در سطح احتمال 1 درصد اثر معنی داری دارد. به طوری که با افزایش رطوبت از 54/7 به 12 درصد بر پایه خشک طول، عرض، ضخام...

15 صفحه اول

Automation of Electrostatic Material Property Measurement Procedures

The design of released microstructures depends on accurate knowledge of residual stresses and associated elastic constants. The MIT-developed material test procedure, M-Test, uses the variation of pull-in voltage with beam length to extract residual stress and elastic modulus from in-situ test structures. This thesis reports a fully automated computer-microvision procedure that automatically de...

متن کامل

Mechanical Property Measurement of 0.5mm CMOS Microstructures

Measurements are reported on the mechanical properties of high-aspect-ratio micromechanical structures formed using a conventional 0.5-μm CMOS process. Composite structures are etched out of the CMOS dielectric, aluminum, and gate-polysilicon thin films using a post-CMOS CHF3:O2 reactive-ion etch and followed by a SF6:O2 silicon etch for release. Microstructures have a height of 5 μm and beam w...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: Journal of the Japan Welding Society

سال: 2003

ISSN: 0021-4787,1883-7204

DOI: 10.2207/qjjws1943.72.467